Nano Dünyaya Hoş Geldiniz

Xenocs Nano Karakterizasyon (SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS) Sistemleri

Xenocs; özel malzemelerin araştırılması, geliştirilmesi ve üretiminde nanoskopik ölçekte karakterizasyon için ürün ve hizmetler sunmaktadır. Çözümleri; Küçük ve Geniş Açılı X-ışını Saçılması'na (SAXS/WAXS) dayanmakta olup polimer araştırmaları, yapısal biyoloji, nanopartiküller ve koloitler, yenilenebilir enerji, gıda bilimi, kozmetik ve tüketici bakımı, petrol ve gaz ile çeşitli inorganik malzemeler gibi geniş bir araştırma uygulama yelpazesinde kullanılmaktadır.

Mevcut karakterizasyon olanaklarınızı tamamlamak için Nano-inXinder ihtiyaç duyduğunuz eşsiz bir çözümdür. Kullanımı çok kolay ve yüksek esneklik imkanı tanıyan bu model, WAXS verilerini SAXS verileriyle aynı anda toplama yeteneği ile kesinlikle eşsiz bir modeldir. Cihazın modüler özellikleri, çeşitli ihtiyaçlarla çözüm arayan birden fazla kullanıcı için gerçek bir avantaj sunmaktadır. Çok çeşitli örnekleri incelemenize olanak tanıyan hepsi bir arada bir sistemdir.

Nano boyutta karakterizasyon için Xeuss Pro sistemi, Küçük Açılı X-ışını Saçılımı teknolojisinde (SAXS) on yılı aşkın ileri araştırmayı ve tecrübeyi bünyesinde barındıran en üst düzey laboratuvar tipi SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/Görüntüleme hızlandırıcısıdır. Xeuss Pro, X-ışını saçılımı dünyasında yeni standartlar belirlemek için son teknolojik gelişmeleri bir araya getiren üst düzey bir modeldir.




Xeuss Pro SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS Cihazı

Nano Düzeyde Karakterizasyon İçin Kusursuz Çözüm

Nano boyutta karakterizasyon için Xeuss Pro sistemi, Küçük Açılı X-ışını Saçılımı teknolojisinde (SAXS) on yılı aşkın ileri araştırmayı ve tecrübeyi bünyesinde barındıran en üst düzey laboratuvar tipi SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS görüntüleme hızlandırıcısıdır. Xeuss Pro, X-ışını saçılımı dünyasında yeni standartlar belirlemek için son teknolojik gelişmeleri bir araya getiren üst düzey bir modeldir.

Nanometre ölçeğinde karakterizasyon için Xeuss Pro SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS görüntüleme sistemi, yalnızca performansını artırmakla kalmayıp aynı zamanda farmasötik geliştirmeden yenilenebilir enerji malzemelerine ve daha ötesine araştırma olanaklarının kapsamını genişleten bir dizi yenilikçi özelliği bir araya getirerek, bilimsel enstrümantasyonun ön saflarında yer almaktadır.

Olağanüstü çok yönlülük ve hassasiyet sunmak üzere tasarlanan bu laboratuvar tipi sistem, SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/Görüntüleme gibi birçok bilimsel temeli aynı anda kullanarak, akademik araştırmalardan, endüstriyel uygulamalara kadar atomik ölçekten nano ölçeğe karakterizasyon sunabilen komple bir sistemdir.

Kusursuz Veri Kalitesi

Son teknoloji optikler sayesinde Temiz Işın teknolojisi ve yüksek çözünürlüklü, düşük gürültülü algılama yetenekleriyle üstün sonuçlar elde etmeniz sağlanır. Kapsamlı yazılım paketi ile XEUSS PRO sorunsuz veri toplama, işleme ve analizi için eksiksiz bir deneyim yaşatır.

  • Xeuss Pro, yüksek akı ve yüksek çözünürlüğü düşük gürültü teknolojisiyle birleştirir
  • Yüksek parlaklık ve uzun ömürlü mikrofokus kaynakları, daha önce yalnızca yüksek güçlü döner anot kaynaklarıyla mümkün olan çok yüksek akı seviyelerini sağlar
  • Çok geniş katı toplama açısına sahip patentli tek yansımalı 3D çok katmanlı optikler
  • Hassas kolimasyon ve yüksek çözünürlük sağlayan 4. nesil motorize yansımayı önleyici (scatterless) yarıklar
  • Optiklerden dedektör sensörüne kadar tamamen vakumda çalışan sistem
  • Hibrit piksel foton sayma dedektörü
  • Ortamdan gelen parazitik saçılmanın etkisini azaltmak için özel otomatik kozmik arka plan azaltma

Xeuss Pro laboratuvar SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS ışın hattının ışın durdurucusuz (beamstop-less) veri toplama yöntemi, detaylı yapısal analizler ve dinamik çalışmalar için birçok avantaj sunar.

Q-Xoom daha geniş bir algılama yüzeyiyle birlikte gelir. Q-Xoom, örnek dedektör mesafesini ayarlayan ve gerekli kalibrasyonları yapan tamamen otomatik, bilgisayar kontrollü bir dedektör hareket sistemi sunar.

Nano-inXider Dikey SAXS Cihazı

Nano Ölçekli Karakterizasyonda Akılcı Yöntem

Nano-inXider, katı, sıvı, jel, toz veya ince film, numunenizin nano yapısı hakkında size yanıt verecek olan en büyük yardımcınız olacaktır.

Birkaç nanometreden 250 nm’ye kadar parçacık boyutu dağılımı, sıvı kristaller, blok kopolimerler, nano ilaç dağıtım sistemleri gibi kendiliğinden birleşen malzemelerin mezofazanalizi, yüzey aktif maddeler, çözeltilerdeki proteinler, hidrojeller gibi biyomalzemelerin nano yapısı stres veya sıcaklığa bağlı değişikleri gözlemleyeceğiniz çalışmaları sırasında yarı kristalin polimerlerin, kristalleşme oranları ve lameller yapısı değişikleri ve lifler - filmler üzerinde yönelim analizi gibi birçok testi Nano-inXider ile yapabilirsiniz.

Düşük maliyet, atomik mertebeden nano skalaya eş zamanlı veri akışı, hassas ve geniş dinamik aralık ölçümleri ve daha fazlasını sadece tek bir sistemle sizlere sunmaktadır.

Nano-inXider SMART tasarımı ile sadece numunenizi hazneye koyun ve sonuçlarınızı alın.

Tek bir ışıma ile hem nanoyapı bilgisine hem de atomik ölçek bilgisine erişim sağlarsınız. Penceresiz SAXS dedektörü ile Nano-inXider, herhangi bir ışın durdurucu (beamstop) kullanmadan SAXS ölçümü yapar ve aynı anda örnekten geçen doğrudan ışını, çok düşük yoğunluk seviyelerine kadar saçılan sinyalle birlikte toplar.

Temiz Işın Teknolojisi (Clean Beam Technology) ile patentli motorize yansımayı önleyici kolimasyon ve patentli tek yansıtmalı çok katmanlı optiklerle eşleştirilmiş mikrofokus kapalı tüp kaynağı (30 W). Optiklerden dedektör sensörüne kadar tamamen vakumda çalışır. Yenilikçi "beamstop-less" veri toplama yöntemiyle elde edilen doğrudan ışın ölçümü, verilerin otomatik olarak işlenmesini ve mutlak yoğunlukta çok yüksek bir doğrulukla görüntülenmesini sağlar.

Eşzamanlı düşük yoğunluklu sinyallerin tespiti, Temiz Işın Teknolojisi'nin (Clean Beam Technology) uygulanmasıyla mümkün hale gelir. SAXS ve WAXS ölçümlerini tekrar etmeye gerek yok, tek bir maruziyetle iki ölçümü birden alırsınız.

Nano-inXider, atomik ölçekli bilgileri ve nanoyapıyı aynı anda tespit etmek için akıllı çift dedektör tasarımına sahiptir. Büyük karakteristik boyutları ölçmek için uzun örnek-dedektör mesafesi, dikey tasarım ve küçük bir alan kaplayan yapı sayesinde SAXS'ta sağlanır.




Xenocs XSACT Yazılımı

Çeşitli Uygulamalar için Geniş Kapsamlı Analiz Fonksiyonları

X-ışını saçılma verilerinin işlenmesi ve analizi

Akıllı iş akışı ve kullanıcı deneyimi / Kapsamlı ve güçlü veri analiz algoritmaları paketi / Yüksek kaliteli ve yayına hazır grafikler / Gelişmiş veri işleme

XSACT yazılım paketi, SAXS verilerinin işlenmesi ve yorumlanması için temel analiz fonksiyonlarını içerir. Yazılım, çeşitli uygulamalarda aşağıdaki analizleri yapmaya olanak sağlar.

  • Sıcaklık veya mekanik stres gibi bir dış parametreye bağlı olarak yapısal değişimin incelenmesi
  • Proteinlerin yapısal karakterizasyonu
  • Bir süspansiyonun kütle konsantrasyonunun belirlenmesi
  • Nanopartiküllerin boyut dağılımı ve spesifik yüzey alanı tayini
  • Amorf/düzenli karışık malzemelerde kristallik derecesinin belirlenmesi

Kapsamlı ve Güçlü Veri Analiz Algoritmaları Paketi

XSACT, numune karakterizasyonu için boyut, yapı ve farklı malzeme türlerinin dokusu gibi analiz modüllerinin geniş bir yelpazesini içerir. Tüm veri analiz özelliklerini tek bir pakette toplayan XSACT, işleri olabildiğince hızlı şekilde tamamlamak için birleşik, çok yönlü ve eksiksiz bir veri işleme çözümü sunar. Tüm analiz modülleri, tam dokümantasyon ve uygulama verileri ile birlikte gelir.

XSACT'in temel analiz modülleri şunlardır:

  • Parçacık boyutlandırma için benzersiz yetenek
  • Spesifik yüzey alanının değerlendirilmesi
  • Saçılma verilerinin ölçüm parametrelerine göre değişimi
  • Ölçüm verisi simülatörü