Evident - Olympus Vanta™ iX In-Line XRF Sistemleri
XRF Sistemleri, Magnezyum’dan Uranyum’a kadar; metallerin, seramiklerin, cevherlerin, jeolojik numunelerin, tarihi kalıntıların ve daha fazlasının elementel ve kimyasal yapısının tahribatsız olarak karakterizasyonunu ölçen sistemlerdir.
Proseslerinizi Hızlandırın
Evident - Olympus Vanta™ iX In-Line X-ray floresan (XRF) sistemleri, üretim hattında malzeme analizini ve alaşım tanımlamasını otomatikleştirerek ürünlerinize güvenmenizi sağlar. 7/24 çalışma kapasitesi ile proses hatlarında gerçek zamanlı süreç izleme ve %100 muayene imkânı sunar. Metal tanımlama ve içerik analizi ile Kabul/Red sonuçlarını konfigüre edecek şekilde yapılandırılmıştır.
Metal Boruların, Barların ve Çubukların İmalatı için %100 Denetim
Endüstri 4.0 uygulamalarını ve 7/24 süreç kontrolünü benimseyen kuruluşlar için Vanta iX sistemi; bar, kütük, boru ve çubuk imalatının yanı sıra işlenmiş parçalar ve özelleştirilmiş bileşenler için malzeme doğrulama ve parti/ısı kontrolü sağlar. Bu sayede manual olarak yapılan testlerde yaşanan vakit kaybı ortadan kaldırılarak, daha efektif çalışmalar yapmanıza olanak sağlamaktadır. Vanta iX sistemi ile gerçekleştirilen ölçüm testleri, son ürün için malzemelerin %100 test edildiğini ve doğrulandığını gösterir.
Madencilikte Cevher Kontrolü için Tarama ve İzleme
Hem madencilik hem de Jeoloji alanında kullanımları günden güne yaygınlaşan XRF analizörleri, farklı avantajlara sahiptir. Vanta iX analizörü, cevher değerindeki sonuçları tekrarlanabilirliği ve süreç değişkenliğini izlemek için gerçek zamanlı sonuçlarla üretim kalitesini takip eder ve bant üzerinde analiz sağlar. Bant üzerinde gerçekleşen analiz sırasında, ürünlerin ve konsantrelerin karışım ve proses doğrulamasını takip ederek, üretiminize istenmeyen içeriklerin dahil olmasını önler, kalitenizi korumayı sağlar.
Kalite Kontrol için Hızlı ve Doğru Elemental Analiz
SDD dedektör ve Axon Teknolojisine sahip Vanta iX sistemi, hafif ve ağır elementler de dahil olmak üzere çeşitli alaşım kalitelerini tanımlar. Ortam sıcaklığından ve basınç değerlerinden etkilenmeden hızlı ve doğru elementel analiz sunan sistem, kalite kontrol prosedürlerinde kritik kararların alınması için güvenilir sonuçlar sunar.
Çeşitli Üretim Sistemlerine Kolayca Entegrasyon
Kompakt bir yapıya sahip olan Vanta iX analizörünün çeşitli üretim sistemlerine entegrasyonu kolaydır. Robotik ve diğer sistemlere monte etmek için her türde bağlantı noktalarına sahiptir. Harici bir kontrol kutusuna ihtiyaç duymamaktadır, bu nedenle analiz sistemi, Vanta Connect API veya bir PLC ve ayrı bir kablo ile kolayca kontrol edilebilir.
Üretim Ortamlarında Daha Uzun Çalışma Süresi için Sağlam Yapı
Vanta iX analizörü, üretim tesislerinin yüksek düzeydeki titreşimine, elektromanyetik ve akustik gürültüsüne, toza ve neme dayanacak şekilde üretilmiştir. Titreşim testi yapılmıştır (MIL-STD). -10 °C ila 50 °C (14 °F ila 122 °F) arasında çalışacak şekilde tasarlanmıştır. Yerleşik bir ısı emici, dâhili sıcaklığı düşürürken, ek soğutma gerekirse fan bağlantı noktaları kullanılabilir. Ayrıca IP54 standartları ile sertifikalandırılmış sistem, toz ve su geçirmezlik özelliği ile ortamda bulunan çevresel etkilerden etkilenmeden ve özel bir temizlik prosesine ihtiyaç duymadan çalışmalarına kesintisiz olarak devam etmektedir.
Teknik Özellikler
| Model | Vanta™ iX |
|---|---|
| Boyutlar (G × Y × D) | 10 cm × 7,9 cm × 26,6 cm (3,9 inç × 3,1 inç × 10,5 inç) |
| Ağırlık | 2.4 kg (5.29 lb) |
| Uyarma Kaynağı |
X-ışını tüpü: Rh veya W anot (uygulama için optimize edilmiş) 5–200 μA
MR modeli: 8–50 keV (maks. 4 W) CW modeli: 8–40 keV (maks. 4 W) |
| Birincil Işın Filtrasyonu | Metod ve ışın başına otomatik olarak seçilen sekiz filtre konumu |
| Dedektör |
MR modeli: Geniş alanlı silikon sürüklenme dedektörü
CW modeli: Silikon sürüklenme dedektörü |
| Güç | Ethernet Üzerinden Güç (PoE+) veya 18 V AC güç adaptörü |
| Elemental Aralık |
Yönteme bağlı: MR modeli: Mg-U CW modeli: Ti–U (standart pencere ve kalibrasyon ile) |
| Basınç Düzeltmesi | Otomatik yükseklik ve hava basıncı düzeltmesi için dahili barometre |
| IP Sınıfı | IP54 |
| Çalışma Ortamı |
Sıcaklık aralığı: Sürekli kullanım döngüsü altında –10 °C ila 50 °C (14 °F ila 122 °F)
Nem: %10 ila %90 bağıl nem, yoğuşmasız |
| İşletim Sistemi | Linux |
| Uygulama Yazılımı | Olympus'un tescilli veri toplama ve işleme paketi |
| Sağlamlık Testi | İşlevsel Şok: MIL-STD-810G, Metod 516.6: Şok Prosedürü I, 20g 11ms (Op Safety), 40g 11ms (Çarpışma Güvenliği) |
| Titreşim Direnci | MIL-STD-810G, Metod 514.4: Genel Titreşim, Prosedür I, Ek C, Figür 514.6C-5, 1 saat Genel Maruz Kalma |
| Transit Düşme Testi | MIL-STD-810G, Metod 516.6: Transit Damla, Prosedür IV, 26 Damla |
Dokümanlar
Teknik Veriler
Vanta iX Hat İçi XRF Teknik VerilerVanta iX Hat İçi XRF Radyasyon Profili
Broşürler
Otomatik Materyal Analizi için VANTA™ iX Hat İçi XRF AnalizörüVanta iX İnfografik